當前位置:湖南艾克賽普測控科技有限公司>>半導體/IC測試解決方案>>IC測試分類機>> Chroma 3160C 三溫四站終端測試分類機
Chroma 3160C 三溫四站終端測試分類機是一臺可提供大量且多個IC測試的分類機。該設(shè)備可提供多種封裝方試的IC測試,且支持1/2/4 sites的測試需求。另外,由于可靠的機構(gòu)及功能設(shè)計,也讓該設(shè)備能提供更高的產(chǎn)出及降低設(shè)備當機率,3160-C能更有效提升生產(chǎn)力并縮短更換kit部件的時間,且主動式溫控系統(tǒng) (ATC)更可提供待測物-55°C to 150°C的測試環(huán)境。
Nitro-TEC的溫度控制技術(shù)主要有下列幾項優(yōu)點:
- 主動式溫控系統(tǒng)在測試期間內(nèi),俱有更好的溫度準確性
- TEC允許使用者更快速切換冷/熱端
- 在預(yù)冷板置放區(qū)的下方導入氮氣流道,以達到更好的預(yù)冷效果
- 縮短機臺停止作動的時間,以利機臺維護或更換kit部件
- 減少的LN2消耗
Chroma 3160C 三溫四站終端測試分類機的特色:
- 先進的溫控技術(shù) (Nitro-TEC 氮氣溫度控制器)
- 更快的 index time (0.6 sec)
- 主動式溫度控制并且提供更全面的測試溫度區(qū)間
- Chamber Less的設(shè)計
- 支持更多樣化測試sites的選擇 (1/2/4 sites)
- 更簡單快速的更換kit